锥形束CT分析上颌后牙牙周病及根尖病变对上颌窦底黏膜厚度的影响
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    【摘 要】 目的 应用锥形束CT(CBCT)分析、测量涉及上颌窦的上颌后牙牙周病及根尖病变对患牙上颌窦底黏膜厚度的影像,为患者行种植术前评估提供参考。 方法 选择2013年1~10月行上颌窦区CBCT检查且符合样本标准的患者90例,共180个上颌窦,按患牙患病种类分为对照组(正常牙检查者)、观察A组(牙周病患者)及观察B组(根尖周病患者)三组,每组各60个上颌窦。选取可以显示上颌窦底黏膜厚度最厚的CT层面,测量该层面上颌窦底最低点的黏膜厚度。 结果 对照组上颌窦底黏膜最厚厚度为(1.59±0.32)mm,观察A组为(4.36±2.37)mm,观察B组为(6.90±2.32)mm,观察A、B两组的厚度明显大于对照组,差异均有统计学意义(P<0.05)。 结论 上颌后牙牙周病及根尖病变患者上颌窦底黏膜会发生应激性增厚。

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引用本文

陈心玉,赵 峰.锥形束CT分析上颌后牙牙周病及根尖病变对上颌窦底黏膜厚度的影响[J].现代医药卫生,2015,0(增刊1):37-

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